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存储器高速测试系统

  动态随机存取存储器(DRAM)是最常用的个人计算机和工作站的商品存储设备的类型。它也被广泛运用在服务器和客户机,并用图形和移动应用广泛。虽然无处不在,DRAM技术的变化和进步的步伐很快,有高度的变化-之间的应用类-在速度和功能。超快速的GDDR5- SDRAM芯片使用的图形需要如时钟培训和CRC(循环冗余校验)功能,以确保其可靠性和高速性能。同时,为服务器和客户端的DDR4- SDRAM将很快实现两倍的带宽主流的DDR3- SDRAM和等于到G

  多样化的DRAM,一个测试解决方案

  动态随机存取存储器(DRAM)是最常用的个人计算机和工作站的商品存储设备的类型。它也被广泛运用在服务器和客户机,并用图形和移动应用广泛。虽然无处不在,DRAM技术的变化和进步的步伐很快,有高度的变化-之间的应用类-在速度和功能。超快速的GDDR5- SDRAM芯片使用的图形需要如时钟培训和CRC(循环冗余校验)功能,以确保其可靠性和高速性能。同时,为服务器和客户端的DDR4- SDRAM将很快实现两倍的带宽主流的DDR3- SDRAM和等于到GDDR5的功能。在移动和图形部分,x32和x64的总线宽度是现在的主流,宽256位宽接口的I / O DRAM与预计将在不久的将来,标准化。从最终的应用程序的不同要求,在DRAM技术的发展需要最佳的测试解决方案,能够支持每一代新型设备和应用,而成本控制的必要性要求一个单一平台的解决方案,支持各类DRAM,可灵活部署研发到批量生产。

  产品特点

  业界最佳的8Gbps的测试速度和计时精度为±40ps

  一个8Gbps的最高试验速度,T5511是世界上最快的内存测试仪,支持最快的GDDR5 SDRAM的设备,腾出能力。此外,由于所有系统的测试引脚,支持8Gbps的,没有减少并行发生在高速运行。

  内置时钟训练控制功能

  必不可少的SDRAM,并为新的DDR4 的GDDR5 SDRAM器件的测试,时钟培训功能内置到T5511的硬件。这使得不可能依靠这一功能的软件时,吞吐量改善。

  简单的测试程序创建

  T5511还设有硬件CRC代码生成功能,必要尖端的DDR4- SDRAM的GDDR5 SDRAM器件的测试。专用硬件自动生成CRC码,减少对经营者的负担,使创建测试程序简单。

  此外,T5511运行爱德的“未来套房”测试操作系统,使运营商能够利用广泛的为T55xx一系列测试系统创建的程序数据库。

  “实验室工厂”的灵活性

  系统配置的范围从384使用的R&D引脚通过一个最多6,144批量生产引脚。T5511的“工厂”的灵活的可配置实验室,让客户持有的资本投资到最低限度,同时实现最高的测试效率。

  主要技术指标的

  目标设备的DDR4- SDRAM的GDDR5- SDRAM

  并行测试能力:256(X8的I / O)

  最高试验速度:4GHz的/个8Gbps

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