NIPXI缩短射频功率放大器的特征化时间介绍

　　使用NILabVIEW软件和NIPXI模块化仪器开发功率放大器特征化系统，在减小资产设备成本、功率消耗和物理空间的同时，将测试吞吐量提高了10倍。

　　关于TriQuint Semiconductor

　　TriQuint是一个高性能射频解决方案的领导者，其产品涉及复杂移动设备、国防与航天应用以及网络基础设施等方面。现在，TriQuint通过使用GaAs、GaN、SAW和BAW技术为世界各地的组织提供创新的解决方案。工程师和科学家借助TriQuint的创新提高了产品的性能，并降低了其应用的总成本。

　　现有功率放大器特征化技术的挑战

　　尽管无线射频功率放大器主要被设计在单频带单模式下工作，现代的功率放大器要满足更为多样化的需求。实际上，现代功率放大器的设计可以工作在八个或更多频带下，并且能够用于包括GSM、EDGE、WCDMA、HSPA+、LTE等多种调制类型。

　　在TriQuint Semiconductor，我们需要在多种频率、电压电平、温度和功率范围下测试日益复杂的组件。一个典型组件完整的特征化过程需要大约30,000到40,000行数据对设计进行完全测试。使用传统的机架射频测试设备，每行数据大约需要10秒收集，这样每个独立组件需要超过110小时进行测试。

　　设计替代的PXI测试系统

　　为解决缩短射频组件特征化测试时间的挑战，我们基于NIPXI、LabVIEW和NITestStand，开发了功率放大器特征化测试系统。我们的功率放大器测试台包含以下仪器：

　　NIPXIe-56736.6GHz矢量信号发生器;

　　NIPXIe-56636.6GHz矢量信号分析仪;

　　NIPXI-56918GHz可编程射频放大器;

　　NIPXIe-5122100MS/s高速数字化仪;

　　NIPXI-2596双6x126GHz多路复用器;

　　100Mbit/s数字I/O模块;

　　传统机架频谱分析仪;

　　外置功率计、电源;

　　LabVIEW;

　　NITestStand;

　　NIGSM/EDGE测量套件

　　用于WCDMA/HSPA+的NI测量套件

　　使用LabVIEW软件更新了现有的测试计划，在NIPXI测试台上完成相同的测量序列。由于在PXI测试系统上的测量速度更快，配置特征化序列尽可能使用PXI测试台，仅在需要的时候才使用传统的机架仪器。

　　NIPXI的优点

　　决定使用PXI的主要原因是能够在不牺牲测量精度的情况下实现更高的测量速度。通常，在之前射频放大器测试台上，射频测量所需的时间占了整个特征化时间的绝大部分。PXI利用高速数据总线、高性能多核CPU和并行测量算法实现了尽可能快的测试速度。此外，NIGSM/EDGE测量套件和用于WCDMA/HSPA+的NI测量套件使用合成测量，所有测量可以使用一组I/Q数据完成。我们使用这些工具包能够测量例如增益、效率、平整度、ACP、ACLR、EVM和PVT等功率放大器特征。