X 射线检查常用于行李的安检扫描,例如机场的托运和手提行李检查。待验物品须经过 X 射线辐射,穿过物品却未被吸收的辐射将被收集在影像探测器(通常为光电二极管)面阵上。这些探测器输出需要特殊信号调节的超低电平电流,并且需要高分辨率数据转换器来达到必需的分辨率以正确显现被扫描的物品。此信号调节有时包含在单片数据采集解决方案中,正如精密模数转换器 (ADC) 附带电流-至-电压 (I-to-V) 转换的情况一样。其它时候,离散的极低电流/噪声前端放大器测量并放大影像探测器面阵的输出电流,然后驱动独立的电压输入 ADC。其设计方框图如下:
内核系统包括:
DSP 处理器
DSP 处理器可用于成像重构,利用影像探测器面阵接收的信号生成扫描物品的图像。
放大器
将用于 ADC 的影像探测器面阵的低至中频信号放大需要采用超低电流和噪声放大器。这些通常是实现所需的宽动态范围的限幅组件。由于信号幅度各有不同,通常需要一个低噪声的互阻抗放大器 (TIA)。
转换器
Δ-Σ 类型的 ADC 通常具有集成电流-至-电压 (I-to-V) 转换,可用于将低电平电流转换为被计算元件处理的数据信息。
当单独的前端放大器提供电流-至-电压 (I-to-V) 转换时,通常需要使用电压输入 ADC。
DAC 是阵列最常用的的创建基础。
电源管理
供采集系统用于控制系统电源。
温度传感器
通常系统中会有多个通道,导致系统中的环境温度升高,从而就需要风扇控制的冷却。