HSM3G高速存储器测试解决方案

　　惠瑞捷 (Verigy)推出了全新的 HSM3G 高速存储器测试解决方案，进一步拓展了面向 DDR3世代主流存储器 IC 和更高级存储器件测试能力的 V93000 HSM 平台。V93000 HSM3G 独特的优势在于其未来的可升级性，能够为数据传输速度高达6.8 Gbps未来的三代 DDR 存储器提供价格低廉的测试服务，从而前所未有地长期节约经济成本。

　　V93000 HSM3G 的速度和功能将来都可以升级，提供了高速存储器测试市场上最完整的功能。其可编程的、快速的每引脚 APG 能力得到了数据总线倒置 (DBI) 和循环冗余校验码 (CRC) 数据的支持，能够对高级的 DDR4 存储器技术功能进行测试，确保了较高的测试质量和产量。

　　得益于其每引脚的存储器自动测试设备处理能力，V93000 HSM3G 可以节约高达20%的测试时间。它提供全并行模式的执行(parallel pattern execution)、全并行的直流检测以及眼宽的测量(eye-width measurements)，从而提供了非常高的多点效率。

　　V93000 HSM3G 在整个速度范围内实现了 2.9 Gbps 的原生数据传输率以及 256-site DDR3 实际并行测试(parallel testing)，而无需任何测试时间管理费用，也不会影响准确性、功能性、测试范围以及产量。得益于其原生速度余量(native speed headroom)，HSM3G 可以满足所有主流DDR3 总线速度需求以及高端游戏 DDR3 以及前两个 DDR4 大规模速度等级。V93000 平台架构确保将来能够升级到更高速的设备。