元器件交易网-中发网全新升级平台
关注我们:
首页 > 解决方案 > 正文

N个功率MOSFET并联均流问题解析

  在此引入Q轨迹[3]把器件内部参数同其外围线路联系起来,分析线路中各种寄生因素对并联均流的影响。当N个功率MOSFET并联工作时,假设各支路的Rg完全相同,栅漏源极连线长度也各自相同。定义Q值如式(1)。
  Q=IGLx    (1)
  式中:IG为工作区内的平均栅极电流;
  Lx=Lss1+Lss2+Ld/N其中Lss1及Lss2为外围线路电感。

  不同Q值下IRF150开通和关断时漏电流iD和漏源电压vDS曲线如图1中实线所示。而在Q=Q2,Ls/Lx不同时,器件开关时iD与vDS波形如图1中虚线所示。

  从图1中实线可以看出,Q值越大,换向时间越短,开通损耗越低但关断损耗增大;从图1中虚线可以看出在线路中引入源极电感,器件的开关轨迹发生很大变化,开通损耗增加而关断损耗减小。在高频情况下,器件的开关时间和开关损耗对整个系统效率的提高至关重要。从上面的分析可知器件理想的工作条件应该是在相对较高的Q值下。以下基于不同Q值,通过仿真软件PSPICE分析外围线路中各种寄生参数对并联均流的影响。

N个功率MOSFET并联均流问题解析0

  双管并联电路如图2所示。选用APT公司生产的APT6013LLL做为开关器件,其最高耐压为600V,最大连续漏电流为43A,输入电容Ciss=5696pF,td(on)=11ns,tr=14ns,td(off)=27ns,tf=8ns,阈值电压平均值为4V;驱动信号vgs是幅值为15V频率为1MHz,占空比为50%的方波信号;外接直流电源VDD=100V;负载R为2Ω的无感电阻;D为续流二极管;Lg1=Lg2=Lg,Ld1=Ld2=Ld,Ls1=Ls2=Ls,分别为栅漏源极引线电感,Rg1=Rg2=Rg是栅极去耦电阻。考虑到实验中多用短而粗的双股绞线来减小线路寄生电感,所以,仿真时定义电路中的寄生电感Ld=Lg=Ls=10nH,负载寄生电感L=100nH。

  仿真情况如下:
  1)阈值电压Vth相差0.7V,Rg=5Ω和Rg=10Ω(即Q1<Q2),其它参数均一致情况下,并联两管的漏电流iD波形如图3所示。
  从图3可以看出,并联两管的阈值电压不同会引起两管不均流,Q值较大时均流特性比较好。
  2)阈值电压Vth相差0.7V,Rg=5Ω,Ls分别为22.5nH和5nH,其它参数均一致情况下,漏电流iD波形如图4所示。

N个功率MOSFET并联均流问题解析1

  从图4可以看出,引入源极电感Ls,并联不均流得到改善,但Ls越大器件关断时间越长。在设计中,并联器件源极电感保持一致是必须的,寻找最优的Ls(即Ls/Lx)使得并联均流特性最好。表1为阈值电压Vth相差10%,其它参数均一致情况下,分别取不同Q和Ls/Lx,器件开通和关断过程中电流不均衡的仿真分析结果。其中Δi=iD1-iD2,为并联两管漏电流相差最大处的差值。

  由表1可以看出,当Ls/Lx=25%,Q=Q2时,开通和关断过程器件的均流特性相对最好。

  内部特性参数不一致下,Q和Ls/Lx不同对器件动态电流分布的影响:

(Ls/Lx)/% 导通期间Δi/A 开通过程Δi/A 关断过程Δi/A
Q1 Q2 Q1 Q2 Q1 Q2
5 1.33 1.01 3.88 2.75 7.26 5.93
10 1.25 0.81 3.01 1.99 6.48 5.33
25 1.16 0.67 2.56 1.44 4.52 3.65
30 1.34 0.84 2.63 1.64 4.61 3.88

  实验线路同图2,线路布局完全对称,实验采用IRFP450做为开关管,其基本特性参数:VDSS=500V,RDS(on)=0.4Ω,iD=14A,Crss=340pF,Ciss=2600pF,直流电压是经过三相整流输出的VDD=95V,R1=50Ω,驱动电压幅值为15V,占空比为65%频率约为1MHz。

  实验情况如下:
  1)Rg=8.5Ω,未采取任何均流措施情况下,随机取两个MOSFET并联运行时,漏极电流iD波形如图5所示。
  从图5可以看出,在同一驱动信号作用下,由于并联两管内部参数存在差异,导致了电流的不均衡和开关时间的不同时,使两管承受的通断损耗也出现较大差异,极有可能会造成开关过程中单管负担过重,以致电流过载而烧损。
  2)使Rg=10.0Ω,其它条件不变,漏极电流iD波形如图6所示。

  调节栅极去耦电阻RG相当于调节栅极平均电流IG的大小。由图6可知,增大RG引起功率MOSFET输入电容的充、放电速度减慢,加剧了两管并联应用时动态电流的不均衡。因此,在保证栅极去耦的前提下,Rg应尽可能地小。
  3)Rg=8.5Ω,适当增大Ls,且使Ls1=Ls2时,漏极电流iD波形如图7所示。
  由图7可知,引入适当大小的源极电感,当电流突变时,在电感上会引起附加的di/dt,它能够通过调整器件的栅极电压阻止动态电流的进一步不均衡,大大改善了并联两管的动态均流特性。然而,这种方法增加了器件开关时的损耗,而且源极电感过大会引起器件的开关时间过长而不利于高频使用。因此,多管并联时可以引入适当的源极电感,又不宜太大。

  当功率MOSFET多管并联时,最根本的方法是选用内部参数完全一致的进行并联,通过紧密布局和器件的对称布局来减少杂散电感,消除寄生振荡。在实际使用中为了最大限度地获得并联均流,应该从以下几方面考虑:
  1)选用同型号同批次的器件加以并联;
  2)使用同一个驱动源和独立的栅极电阻消除寄生振荡;
  3)电路布局对称并尽可能紧凑,连线长度相同且减短加粗并使用双股绞线;
  4)适当增大Q值和选取适当大小的Ls/Lx,通过匹配外围电路最大限度地获得并联均流结果。

扫描左侧的二维码

科技圈最新动态一手掌握
每日砸蛋,中奖率100%